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ENI1220 IPM
测试系统
变流器专用IPM测试仪
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系统概述
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基础配置
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该系统是测试IPM的测试设备，输出电压3000v.电流3000A,
系统通过外接数字温度计来观察vf的特征在通过标准温度和测量温度下的温度特征。
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电压
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电流
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标配
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选配
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标配
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选配
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1200V
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1000V
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200A
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200A
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2200V
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400A
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3300V
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600A
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4500V
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1000A
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6000V
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2000A
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配置/短路测试
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电压
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电流
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短路测试
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标配
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选配
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标配
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选配
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项目
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范围
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误差
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分辨率
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1200V
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2200V
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200A
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400A
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100V～1200V
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±3%
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10V
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3300V
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600A
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测试电流
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10A～75A
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±3%
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1A
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4500V
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1000A
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短路电流
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100A～500A
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±3%
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1A
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6000V
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2000A
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短路时间
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1 uS～10uS
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可调
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可调
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测试功能
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测试范围
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测试参数
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IPM
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BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID,
UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF),
ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN,
OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS
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IGBT
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ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT)
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DIODE
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VF-Temp, Temp, VF revision
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参数 / 精度
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静态参数
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动态参数
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上桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-H)
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上
桥
开
关
参
数
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集电极电压Vce：
100～1200V，
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误差±3%,分辨率10V
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上桥IGBT/FRD耐压测试(Bvce-H)
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上桥驱动IC低端静态电流测试(IDH)
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集电极电流Ice：
10～75A，
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误差±3%,分辨率1A
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上桥驱动IC高端静态工作电流测试
（Iqbs-U,V,W）
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VD=VBS=15V,
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误差±3%,分辨率0.1V
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上桥欠压保护监测电平 （UVbsd-U V W）
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VIN=0～5V
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误差±3%,分辨率0.1V
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上桥欠压保护复位电平（UVbsr-U V W）
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ton-L : 10～500nS,
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误差±3%,分辨率1nS
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上桥驱动IC导通阈值电压测试
（Vth（on）-UH VH WH）
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tc（on）-L :5～200ｎS,
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误差±3%,分辨率1nS
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toff-L: 50～500ｎS,
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误差±3%,分辨率1nS
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上桥驱动IC关断阈值电压测试
（Vth（off）-UH VH WH）
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tc(off)-L: 5～200ｎS,
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误差±3%,分辨率1nS
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Trr-L :10～500ｎS,
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误差±3%,分辨率1nS
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上桥IGBT饱和电压测试（Vce(sat)-UH VH WH）
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Eon-L :0.1～10ｍＪ,
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误差±3%,分辨率0.1mJ
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上桥FRD正向压降测试（VF-(UH VH WH)
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Eoff-L： 0.1～10ｍＪ
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误差±3%,分辨率0.1mJ
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下桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-L)
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下
桥
开
关
参
数
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集电极电压Vce：
100～1200V，
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误差±3%,分辨率10V
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下桥驱动IC静态工作电流测试（IDL）
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故障输出电压测试（Vfoh Vfol）
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集电极电流Ice：
10～75A，
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误差±3%,分辨率1A
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过流保护阈值电压测试（Vcin（ref））
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下桥欠压保护监测电平（UVdd）
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VD=VBS=15V,
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误差±3%,分辨率0.1V
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下桥欠压保护复位电平（UVdr）
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VIN=0～5V
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误差±3%,分辨率0.1V
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下桥驱动IC导通阈值电压
（Vth（on）-UL VL WL）
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ton-L : 10～500nS,
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误差±3%,分辨率1nS
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tc（on）-L :5～200ｎS,
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误差±3%,分辨率1nS
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下桥驱动IC关断阈值电压
（Vth（off）-UL VL WL）
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toff-L: 50～500ｎS,
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误差±3%,分辨率1nS
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tc(off)-L: 5～200ｎS,
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误差±3%,分辨率1nS
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下桥IGBT饱和电压测试（Vce(sat)-UL VL WL）
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Trr-L :10～500ｎS,
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误差±3%,分辨率1nS
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下桥FRD正向压降测试（VF-(UL VL WL)
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Eon-L :0.1～10ｍＪ,
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误差±3%,分辨率0.1mJ
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Eoff-L： 0.1～10ｍＪ
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误差±3%,分辨率0.1mJ
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