产品介绍
ENJ2005-B IGBT(绝缘栅双极型晶体管)测试系统(以下简称
ENJ2005-B 测试系统)符合:国际电工委员会
IEC 60747-9-2001 规范,符合国标
GB/T17007-1997 规范。ENJ2005-B
测试系统是本公司推出的一种先进的 IGBT
测试系统。适合研究所、生产企业做元器件筛选检验,IGBT
生产厂用做生产测试,院校做测试分析。
系统可扩展性强,通过选件可以提高电压、电流的测试能力,自动快速测试可以满足用户大生产需要,故障率低也保证了用户的生产效率。在
PC 窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程,操作人员不需具备专业计算机编程语言知识,使用简捷方便。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证各种情况下测试结果的准确可靠。系统面板的显示装置能够及时显示系统的各种工作状态和测试结果。系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
基本配置
1、主极电压: 0--2000V
;
2、电压分辨率:1mV;
3、主极电流:0---50A(100A、200A、400A、
500A、700A、800A、1000A、1300A可选);
4、电流分辨率:1nA ;
5、精度:0.5%+2LSB ;
6、测试速度:0.5MS/参数;
7、可提供的选件有
3000V 阳极高压选件。
序号
|
测试参数
|
别称
|
序号
|
测试参数
|
别称
|
1)
|
栅极-发射极阈值电压
|
Vgeth
|
2)
|
集电极-发射极截止电流
|
ICES
|
3)
|
集电极-发射极击穿电压
|
BVCES
|
4)
|
集电极-发射极饱和电压
|
VCESAT
|
5)
|
栅极-发射极漏电流正向
|
IGESF
|
6)
|
栅极-发射极漏电流反向
|
IGESR
|
7)
|
门极开通电压
|
VGEON
|
8)
|
二极管压降
|
VF
|
9)
|
通态电流
|
ICON
|
10)
|
跨导
|
GFS
|
11)
|
导通电阻
|
RDSON
|
12)
|
其他功率器件(MOS,晶体管等)的测试
|
|
技术要求
工作温度: 25℃--40℃
贮存温度: -15℃--50℃
工作湿度: 45%--80%
贮存湿度:10%--90%
工作电压:200v--240v
电源频率:47HZ--63HZ
接地要求:供电电源应良好接地。
通信接口:RS232 USB
系统功耗:<150w
设备尺寸:450mm×570mm×280mm