随着电子科技行业的不断发展，一些晶体管的使用渐现普遍，而这时候一些测试系统便需要使用，IGBT测试系统主要是用来检测其是否能够正常的使用。一些半导体元件就是采用此种设备进行检测处理的。

　　1.半导体元件的参数重要性

　　中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的，因其必须承受规格上指定的电压与电流，在某条件下，承受度的数据便称为此元件的参数。若元件的工作条件超过其参数数据，元件可能会立刻烧毁或造成性的损坏。

　　2.如何判断大功率半导体器件为何有老化问题

　　功率元件由于经常有大电流往复的冲击，对半导体结构均具有一定的耗损性及破坏性，若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘，更会加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一样是不可避免的问题。

　　3.必须及时更换老化的元件避免更大损失

　　当功率元件老化时，元件的内阻在导通时必定会加大，因而使温度升高，并使其效能降低。长期使用后若温升过高时，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，进而使半导体的接口产生大量崩溃，而将此元件完全烧毁。当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。

　　4.如何检测元件有老化的现象？

　　半导体元件有许多参数都很重要，有些参数如：放大倍率，触发参数，闩扣，保持参数，击穿电压等，将量测的数据与其出厂规格相比较，就可判定元件的好坏或退化的百分比。

　   上述文章详细的介绍了IGBT测试系统的主要应用途径，用户在选用的时候要在正规的常见进行购买，若是在购买的期间有任何的不解可致电了解。