晶体管在电子技术方面具有广泛的应用。在制造晶体管和集成电路以及使用晶体管的过程中，都要检测其性能。晶体管输入、输出及传输特性普遍采用直接显示的方法来获得特性曲线，进而可测量各种直流参数。晶体管图示测试系统的应用确保了使用的电子产品的正常使用。

　　主要技术指标

　　线性集成电路测试

　　失调电压：0～60mV误差±5%读＋2字

　　失调电流：0～10μA误差±5%读＋2字

　　输入偏置电流：0～10μA误差±5%读＋2字

　　差模开环增益：60～99.9dB误差±5%读＋2字

　　100～110dB误差±7%读＋2字

　　共模抑制比：60～99.9dB误差±5%读＋2字

　　100～110dB误差±7%读＋2字

　　输出幅度：±4V～±24V误差±7%读＋2字

　　静态消耗电流：0～20mA误差±5%读＋2字

　　半导体管测试

　　集电极电压：0.05V/div～50V/div误差±3％

　　二极管测试电压：0～3000V(配选购件)误差±5％

　　基极电压：0.05V～1V/div误差±3％

　　集电极电流：10μA～1A/div误差±3％

　　集电极漏电流：0.2μA～5μA/div误差±3％～10％

　　阶梯电压：0.05V～1V/级误差±3％

　　阶梯电流：0.2uA～50mA/级误差±5％～7％

　　△Ub：±8V

　　功耗限制电阻:0～500KΩ误差±10％