伴随着科技的发展，电子设备的应用的也渐现普遍，而这些电子设备的正常使用离不开晶体管的正常运行。为了确保的晶体管的正常使用，晶体管图示测试系统起着不可估量的作用。而对于晶体管也是会出现的故障，本文就预防晶体管出现损害具体做以详细的分析。

　　（1）电路中的电压、电流、输出功率过载引起损坏在晶体管电路中主要与集电极－发射极间的电压VCC、集电极－基极VCB与晶体管固有的特性参数(如VCBO、VCEO、ICBO、ICEO、PCM)及工作条件有关。如果电路中晶体管的集电极VCEO电压超过了值，就会造成晶体管的损坏。

　　（2）热损坏在晶体管手册中一般所指的电压，通常是常温(25℃)下的值。因此，在环境温度较高或在结温下使用时，晶体管工作的实际电压将小于常温时的值，此时晶体管的ICBO和IEBO也会增加，造成结温上升，而结温升高又会使ICBO和IEBO更进一步增大而形成雪崩现象，结果热击穿而损坏。

　　（3）二次击穿引起的损坏在晶体管电路中，当集电极电压升高时首先会出现一次击穿，使IC急剧增加。当其电压增加到某一临界值后压降会突然降低，形成很大的过电流，造成二次击穿而损坏。

　　（4）外界环境变化引起的损坏外界环境变化是指机械振动、外力冲击、潮湿、化学物品的侵蚀等外界因素造成的损坏。

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