分立器测试系统对于各产品的把关检测起着重要的作用，使用分立器测试系统能够确保测量的产品的正常使用。不仅方便还很实用，而其分类的产品又是分为多种，每一种测试系统具备特征也是有所不同的，小编就常见的分立器测试系统与大家做以详细的分析。

    ST是一项高速多用途半导体分立器件智能测试系统。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。ST产品使用比较方便，只需要通过USB或者232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL的格式保存，特性曲线保存相当方便。

　　T300系列分立器件开关参数（TS）测试系统，主要用于测量三极管(NPN/PNP)、场效应管(FET)、IGBT、可控硅(SCR)等分立器件的开关参数。它通过给半导体器件的控制极(B极、G极等)施加一个脉冲信号，看输出极(C极、D极、K极等)电压(或电流)变化的响应时间，开关时间取决于被测器件各PN结间的在正偏和反偏时各PN极上的结电容的大小，开关参数还取决于各极指定的电流和电压，另外还与温度有关，对应的参数有Ts、Tf、Tr、Ton、Toff等等。

　　分立器测试系统之T300系列分立器件开关参数测试系统是一个完整的系统，采用32位MCU独立控制，本机自成系统，可单独完成编程、分类、测试，以及与分选机的联机接口等等。也可通过RS232(可隔离的)与上位机联机，可在上位机上编程，再下载。测试结果也可上传到上位机，在上位机上进行统计分析，打印存档等等常规处理。

　　该公司YB6500半导体测试系统功能更加强大，可测试十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件：系统主要参数如下：主极电压：2000V主极电流：50A加选件可扩展到：400A，500A,800A，1000A,1250A.(用户自选)控制极电压：20V加选件可扩展到：80V控制极电流：10A加选件可扩展到：40A电压分辨率：1mV电流分辨率：1nA（加YB550分辨率为10pA测试速度：1mS/参数(本系统采用填入式编程方法，专为国内用户开发)YB6200/YB6500系统是专为测试半导体分立器件和大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列。

     分立器测试系统分为不同系列的测试系统，每一种产品都具备着不同的性能特征，突出不同的特点。因此应用的范围也是稍有差距的。对于分立器测试系统有任何的疑问也欢迎大家致电了解，我们厂家也将全面为大家提供服务！