为了能够准确测量半导体分立器件，分立器测试系统的应用也便随之而来，分立器件测试系统是一款通用的兼顾分立器件和集成电路的测试系统。较好地解决了分立器件和集成电路之间结合部器件的测试。系统采用全数字化功能，基于曲线的全性能测试，实现所见即所得的功能。

　　本系统适合各大研究院所做元器件检验，元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。
　　系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。
　　分立器测试系统面板的显示装置能够及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱开主控计算机独立完成多种测试。
　　系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
　　YB6200测试范围
　　YB6200系统是专为测试半导体分立器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列：
　　1) 二极管DIODE
　　2) 晶体管 TRANSISTOR(NPN型/PNP型)
　　3) 稳压(齐纳)二极管 ZENER
　　4) 结型场效应管 J-FET (N-沟/P-沟，耗尽型/增强型)
　　5) MOS场效应管 POWER MOSFET(N-沟/P-沟)
　　6) 三端稳压器 REGULATOR(正电压/负电压，固定/可变)
　　7) 光电耦合器 OPTO-COUPLER(NPN型/PNP型)
　　8) 可控硅整流器(普通晶闸管) SCR
　　9) 双向可控硅 (双向晶闸管) TRIAC
　　10) 绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT(NPN型/PNP型)
　　11) 光电逻辑器件 OPTO-LOGIC
　　12) 双向触发二极管 DIAC

   分立器测试系统的应用在半导体测试的应用非常的广泛，为了应对不断发展的半导体技术以及更多新型的半导体器件，系统在设计时就已经为在未来增加各种测试回路预留了扩展空间，使设备的测试能力不断发展成为可能。