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晶体管图示测试系统基本常识介绍
发布日期:2014-06-13

  晶体管图示测试系统是一种能对晶体管的特性参数进行测试的仪器。半导体管特性图示仪,功能强,操作方便,可根据需要测量二极管、三极管的低频直流参数,集电极电流可达10A,基本满足200W以下的晶体管测试。

  2. 主要技术指标

  2.1 Y 轴偏转因数

  集电极电流范围

  (Ic) 0.5 μ A/div-1A/div 分20档 误差不超过±3%

  (Ir)50nA/div-1uA/div 分五档 误差不超过± 15%

  基极电流或基极源电压

  0.01V/div 误差不超过±3%

  外接输入

  0.01V/div 误差不超过±3%

  2.2 X 轴偏转因数

  ( VC) 10 mV/div-50V/div 分12档 误差不超过±3%

  ( VD)100V/div-300V/div 误差不超过±10% )

  基极电流或基极源电压:0.01 V/div 误差不超过±3%

  外接输入 0.01 V/div 误差不超过±3%

  2.3 阶梯信号

  阶梯电流范围:0.5μ A/div- 100 mA/div 分17档 误差不超过±5%

  阶梯电压范围:0.05 V/ 级 -1 V /级 分五档 误差不超过±5%

  串联电阻:0、10 kΩ、1MΩ 分三档 误差不超过±10%

  每簇级数:1-10级 连续可调

  每秒级数:200

  极性:正、负、异分三档

 

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