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分立器测试系统进行测量的种类分析
发布日期:2014-06-09

  测试系统是一项高速多用途半导智能分立器测试系统。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力。可真实准确测试达十九大类二十七分类大、中、小功率的半导体分立器件。ST产品使用比较方便,只需要通过USB或者232与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL的格式保存,特性曲线保存相当方便。

    分立器测试系统主要可以进行测量的产品种类有以下几种:

  1.二极管 Diode 2.稳压(齐纳)二极管 Zener

  3.晶体管 Transistor(NPN型/PNP型)

  4.可控硅整流器(普通晶闸管) SCR

  5.双向可控硅(双向晶闸管) TRIAC

  6.MOS场效应管 Power MOSFET(N-沟/P-沟)

  7.结型场效应管 J-FET (N-沟/P-沟,耗尽型/增强型)

  8. 三端稳压器 REGULATOR(正电压/负电压,固定/可变)

  9.绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT(NPN型/PNP型)

  10.光电耦合器 OPTO-COUPLER(NPN型/PNP型)

  分立器测试系统技术参数及可实现目标分析

  主极电压:1000V 通过内部设置可扩展到:2000V (5000V保留)

  主极电流:50A 加选件可扩展到:400A/500A/1000A/1250A,2500A(保留)

  控制极电压:20V 加大电流台选件可扩展到:80V

  控制极电流:10A 加大电流台选件可扩展到:40A

  电压分辨率:1mV

  电流分辨率:100pA 加小电流台选件可扩展到:1pA

 

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