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IGBT测试系统之晶体管测试仪的知识介绍
发布日期:2014-05-30

  IGBT在功率半导体的市场日趋重要, IGBT测试系统需求 近年来,电子工业不断发展功率元件及系统,而电力电子工业中使用IGBT装置的数量也急速增加。

IGBT测试系统的应用也是越加的广泛。关于IGBT测试系统的晶体管测试仪的基本信息予以大家介绍分析。

  1. 什么是大功率半导体元件?其用途为何?

  凡是半导体元件如双接合型电晶体(B.TRANSISTOR)、金属氧化场效电晶体(MOSFET)、IGBT(INSULATED GATE B.TRANSISTOR)及TRIAC、SCR、 GTO等各型闸流体与二极管(DI ODE)等,其工作电流与电压乘积若大于1KW以上,均可属于大功率的范围。此类元件多用于车船,工厂的动力,光电及其他能源的转换上。

  2. 何谓半导体元件的参数?对元件使用上有何重要性?

  中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的,因其必须承受规格上指定的电压与电流,在某条件下,承受度的数据便称为此元件的参数。若元件的工作条件超过其参数数据,元件可能会立刻烧毁或造成性的损坏。

  3. IGBT测试系统产品之大功率半导体器件为何有老化的问题?

  功率元件由于经常有大电流往复的冲击,对半导体结构均具有一定的耗损性及破坏性,若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘,更会加速元件的老化程度,故元件老化,就如人的老化一样是不可避免的问题。

  5. 如何检测元件有老化的现象?

  半导体元件有许多参数都很重要,有些参数如:放大倍率,触发参数,闩扣,保持参数,崩溃电压等,是提供给工程师在设计电路时的依据,在检测元件是否有老化的现象时,仅须测量导通参数及漏电流二项即可。将量测的数据与其出厂规格相比较,就可判定元件的好坏或退化的百分比。

    总结:IGBT测试系统之晶体管测试仪在进行测试的过程中电流需达到其所能够承受的范围之内,产品的应用也应该注意其出现老化现象。如有疑问欢迎致电咨询。

 

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