晶体管图示测试系统操作规程

一． 测试前的开机与调节 
1．开启电源：将电源开关向右方向按动，此时白色指示灯即发光，待预热十分钟后立即进行
正常测试。在必要时测量进线电压在220V±10%D的范围为宜。 
2．调节辉度聚焦，辅助聚焦及标尺亮度：将示波管会聚成一清晰的小光点，标尺亮度以能清
晰满足测量要求为原则。 
3．Y、X移位  对Y、X移位旋钮置于中心位置，此时光点应根据PNP、NPN开关的选择处
于左下方或右上方。再调节移位旋钮使其在左下方或右下方实线部分的零点。 
4．对Y、X校准将Y、X灵敏度分别进行10度校准，其方法将Y（或X）方式开关自“┴”
至“校准”此时光点或基线应有10度偏转，如超过或未达到时应进行增益调节（X/Y调节W*1-10/1-110）。] 
5．阶梯调零: 阶梯调零的原理即将阶梯先在示波管上显示，然后根据放在输入端接地所显示
的位置，于调节零电位器使基与放大器接地时重合即完成调零。 
调节方法首先将Y偏转放大器置于基极电流或基极源电压档级，X偏转放大器置于U0的任意档级，将测试选择置于“NPN”，电压档级置于“常态”，阶梯幅度/级置于电压/级的任意档，集电极电压置于任意档级使示波管显示电压值，此时即能调零,使根基线与Y偏转放大器“┴”时重合即完成了调零步骤。 
6．电容性电流平衡：在要求较高电流灵敏度档级进行测量时，可对电容性电流进行平衡，平
衡方式将Y偏转放大器置于较高灵敏并档级使示波管显示电容性电流，调节电容平衡旋钮使其达到最小值即可。 
7．集电极电压检查：在进行测量前应检查集电极电压的输出范围，检查时将V0置于相对应
档级，当发现将峰值电压顺时针方向时，其输出在规定值与大于10%之间即正常，如超过或小于述规定请检查进线电压（此时功耗限止电阻应等天0）。 
二、二极管特性测试 
1、通过二极管测试盒与仪器二极管测试孔相连，在特殊情况下也可用合适的耐高压线与
此插孔相连，被测管按面板所示的二极管性与测试孔相连。 
2、将集电极输出电压琴键按至3000V档级，此时并将峰值电压逆时针方向旋转到零。 3、将Y电流/度置于ID范围内的适合档级，并将X电压/度置于UD范围内的合适档级。 4、按“测试”按钮，并徐徐缓缓升高峰值电压直至所要求值（或二极管击穿电流超过规定值电压）时止。 
5、由于高压测试插孔中具有高压，因此在按“测试”按钮时，切勿接触测试插孔的任一端。 
三、场效应管的特性测试 
       1、根据P沟道或N的具体管型分别将测试选择开关置于PNP或NPN，并将开关置于“倒
置”，必须时也可置于“常态”。 2、被测管的D接C，C接B，S接E。 
3、将Y电流/度置于IO合适档级（实际为IDS值），X电压/度开关置UO合适档级（实际为VDS值）。 
4、测试A与测试B置于被测管连接的一边。 
5、按照UDS要求值调节集电极峰值的电压值，并调节使左下方（N沟道）或右上方（P沟道）的零点开始。

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6、 选择合适的阶梯幅度/级开关置于电压某一档级（一般置于较小档级再逐级加大至要求值）。 
7、 选择合适的功耗限制电阻，电阻值的确定可按负载线的要求或保护被测管的要求进行选择。 
8、 晶体管图示测试系统对所显示的DS-ID曲线可将X电压（度置档）级，进行读数和记录。 
四、可控硅整流器特性测试 
1、 将测试选择开关置于NPN，并将开关置于“常态”。 2、 被测管的A接C，C接B，B接E。 
3、 将Y电流/度开关置于IO范围内的合适档级（实际为IF值），X电压/度开关置于UD合适档级（实际上UA值）。 
4、 测试A与测试B置于被测管连接的一边。 
5、 按照UAC的要求值调节集电极峰值电压值，并调节使右下方的零点开始。 
6、 选择合适的阶梯幅度/级开关置于电压某一档级（一般置于较小档级，再逐级加大至达到可触发点）。 
7、 选择合适的功耗限制电阻，但应不使电阻为零，以免电流过大而使被测管烧坏。 8、 对所显示的VA-IF曲线进行读数或记录。 
9、 如需要显示IGT-IGT曲线可将X电压/度置于VBE档级，Y电流/度置于档级，进行读数和记录    
注意事项： 
1、 对被测管的主要直流参数的熟悉和了解。 
2、 在测试前将极性与被测管所需要的极性置于规定位置。 
3、 将集电极电压互输出按纽至其输出阻抗电压不应超过被测管允许的集电极电
压。 
4、 对被测管进行必要的估算，以选择合适的注入阶梯电流或电压。 
5、 在进行ICM的测试时一般采用单次阶梯为宜，以免被测管的电流击穿。 
6、 在进行IO或ICM测试中应根据集电极电压的实际情况，不应超过仪器规定的
电流。

资料来源：晶体管图示测试系统，分立器测试系统，IGBT测试系统